Группа ученых из Австралии, Японии и США впервые смогла запечатлеть движение атомов в кристаллической решетке внутри объемного материала. В качестве образца был использован сплав в виде нитрида алюминия, в котором наблюдались диффузионные процессы атомов церия и марганца. Атомы церия, будучи более крупными в сравнении с атомами марганца, в наблюдаемом кристалле все же перемещаются быстрее.
Запечатленное поведение атомов примесей является прямым подтверждением расчетов, которые базируются на одном из методов квантовой механики — методе функционала плотности. Исследования проводились при помощи электронного сканирующего микроскопа, запись с которого можно посмотреть в конце этой новости.
Работа физиков имеет важное значение, в первую очередь, в области изучения и производства полупроводников. Сегодня для изготовления некоторых частей микросхем и светодиодов применяется технологический процесс допирования. Суть его состоит в том, что первоначальный кристалл обогащается различными примесями, которые помогают изменить свойства кристалла.
Возможность следить за перемещением примесей в материале позволяет более точно говорить о их распределении по кристаллической решетке. Помимо этого, слежение за диффузионными процессами поможет с высокой точностью предсказывать срок службы кристаллов и их особые свойства.
Запись перемещения атомов с электронного сканирующего микроскопа
Комментарии: (0)