Рентгеноструктурный анализ метод Дебая

Здравствуйте, может вы мне сможете помочь понять тему на построение Эвальда в методе Дебая-Шеррера для поликристалла
Нужно сделать построение Эвальда для метода Дебая (λ=1Å, кубическая F-ячейка, a=5Å), нужно еще определить максимальные индексы плоскостей, отражения от которых попадут на пленку кассеты камеры. Вопросов больше на построение Эвальда, понятное дело его нужно делать в обратной решетке, не особо понятно какой угол падения, он не дан, но если по формулам смотреть, то максимальные hkl будут при угле 90°, типо условие из Брэгга-Вульфа:
√(h^2+k^2+l^2)≤100
Вот, дальше из условия четности и нечетности скорее всего нужно подобрпть эти индексы, но я не уверена как это делается. И как мне сделать построение Эвальда? Не могу найти какую-то качественную и полную информацию. Меня особенно интересует как нарисовать эти дифракционные кольца в обратной решетке(как на картинке прикрепленной синие). Я где-то смотрела, что они высчитываются как 1/d, но тогда они получаются меньше периода решетки из моих расчетов и даже не пересекают ни один узел, но может я что-то не так поняла.
И как потом по пересечениям с узлами обратной решетки понять максимальные индексы? Наверное, тогда получится что-то типо 10 0 0? Но вроде это та же плоскость 1 0 0, а это минимальные индексы. В общем, поправьте меня, пожалуйста в моих рассуждениях.
Заранее спасибо